试片的使用范围

试片用于验证磁粉检测综合性能(系统灵敏度)。A型试片，适用于在较宽大或平整的被检表面上使用：C型和D型试片，适用于较窄小或弯曲的被检表面。高灵敏度的试片，用于验证要求有较高检测灵敏度的磁粉检测综合性能，低灵敏度试片，用于验证要求较低检测灵敏度的磁粉检测综合性能。只有符合要求的磁粉检测综合性能，相应的磁粉检测结果才是有效的和可靠的。